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Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano
(Instituto Tecnológico Metropolitano (ITM), 2007-06-26)
El presente trabajo muestra una técnica para reconstruir el perfil de índice de refracción (PIR) de fibras ópticas, basado en la comparación de los patrones de intensidad del modo de propagación fundamental obtenido ...