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  • Num. 18 (2007)
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Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano

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479-Manuscrito-757-1-10-20170313.pdf (5.962Mb)
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Date
2007-06-26
Author
Castrillón-Gallego, Luis F.
Keywords
Perfil de índice; fibra óptica; elementos finitos; campo cercano
Metadata
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PDF Documents
Abstract
El presente trabajo muestra una técnica para reconstruir el perfil de índice de refracción (PIR) de fibras ópticas, basado en la comparación de los patrones de intensidad del modo de propagación fundamental obtenido experimentalmente y el logrado teóricamente a través del método de elementos finitos, utilizando una función de mérito para ajustar parámetros. Para validar la técnica se aplica a una fibra de núcleo de silicio puro cuyo perfil de índice de refracción ha sido medido por el método de campo cercano refractado (RNF).
URI
http://hdl.handle.net/20.500.12622/766
Collections
  • Num. 18 (2007) [10]

Departamento de Biblioteca y Extensión Cultural
bibliotecaitm@itm.edu.co

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