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Sistema De Shearografía para el Análisis Dinámico de Materiales bajo Estrés Térmico

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340-Manuscrito-506-1-10-20170217.pdf (44.35Kb)
387-Manuscrito-553-1-10-20170217.pdf (478.0Kb)
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Date
2013-11-19
Author
Correa-Rojas, Nelson A.
Causado-Buelvas, Jesús D.
Herrera-Cuartas, Jorge A.
Keywords
Shearografía; ensayo no destructivo; metrología óptica; transformada de Hilbert
Metadata
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PDF Documents
Abstract
Los sistemas de shearografía son herramientas para el control e inspección de fallas e imperfecciones estructurales en diferentes tipos de aplicaciones industriales, automotrices y aeronáuticas. Se basan en la correlación digital de dos frentes de onda de patrones de speckle en dos estados de interés: con y sin carga. La técnica tiene la cualidad especial de ser autoreferenciada en sus frentes de onda y por tanto es muy robusta frente a perturbaciones ambientales. Se presenta un sistema shearografía en el cual se puede analizar el comportamiento dinámico de los esfuerzos que sufre un material en función de cambios en temperatura a lo largo de todo el proceso de carga térmica.
URI
http://hdl.handle.net/20.500.12622/672
Collections
  • Edición Especial (2013) [60]

Departamento de Biblioteca y Extensión Cultural
bibliotecaitm@itm.edu.co

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