Challenges to the implementation of high temperature and strain instrumentation for in situ testing in the scanning electron microscope [Desafios para la implementación de instrumentación para ensayos in situ de deformación a alta temperatura en el microscopio electrónico de barrido]
TY - GEN
T1 - Challenges to the implementation of high temperature and strain instrumentation for in situ testing in the scanning electron microscope [Desafios para la implementación de instrumentación para ensayos in situ de deformación a alta temperatura en el microscopio electrónico de barrido]
AU - Torres E.A.
AU - Montoro F.
AU - Unfried J.S.
AU - Ramirez A.J.
Y1 - 2014
UR - http://hdl.handle.net/20.500.12622/3802
AB -
ER -
@misc{20.500.12622_3802,
author = {Torres E.A. and Montoro F. and Unfried J.S. and Ramirez A.J.},
title = {Challenges to the implementation of high temperature and strain instrumentation for in situ testing in the scanning electron microscope [Desafios para la implementación de instrumentación para ensayos in situ de deformación a alta temperatura en el microscopio electrónico de barrido]},
year = {2014},
abstract = {},
url = {http://hdl.handle.net/20.500.12622/3802}
}RT Generic
T1 Challenges to the implementation of high temperature and strain instrumentation for in situ testing in the scanning electron microscope [Desafios para la implementación de instrumentación para ensayos in situ de deformación a alta temperatura en el microscopio electrónico de barrido]
A1 Torres E.A.
A1 Montoro F.
A1 Unfried J.S.
A1 Ramirez A.J.
YR 2014
LK http://hdl.handle.net/20.500.12622/3802
AB
OL Spanish (121)