Listar por autor "Unfried J.S."
Mostrando ítems 1-1 de 1
-
Challenges to the implementation of high temperature and strain instrumentation for in situ testing in the scanning electron microscope [Desafios para la implementación de instrumentación para ensayos in situ de deformación a alta temperatura en el microscopio electrónico de barrido]
Torres E.A.; Montoro F.; Unfried J.S.; Ramirez A.J. (2014)