Mostrar el registro sencillo del ítem

Development of high-temperature strain instrumentation for in situ SEM evaluation of ductility dip cracking

dc.contributor.authorTorres E.A.
dc.contributor.authorMontoro F.
dc.contributor.authorRighetto R.D.
dc.contributor.authorRamirez A.J.
dc.date.accessioned2020-08-28T22:28:59Z
dc.date.available2020-08-28T22:28:59Z
dc.date.issued2014
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12622/3792
dc.sourceScopus
dc.source.urihttps://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84904748435&doi=10.1111%2fjmi.12128&partnerID=40&md5=32b549b190220bb83496ce38d19423fa
dc.titleDevelopment of high-temperature strain instrumentation for in situ SEM evaluation of ductility dip crackingspa
dc.title.alternativeJournal of Microscopy
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/closedAccess
dc.relation.citationissue3spa
dc.identifier.doi10.1111/jmi.12128
dc.relation.citationvolume254
dc.relation.citationstartpage157
dc.relation.citationendpage165
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersion


Ficheros en el ítem

FicherosTamañoFormatoVer

No hay archivos asociados a este ítem.

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

Mostrar el registro sencillo del ítem