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dc.contributor.authorCorrea-Rojas, Nelson A.
dc.contributor.authorCausado-Buelvas, Jesús D.
dc.contributor.authorHerrera-Cuartas, Jorge A.
dc.date.accessioned2019-07-18T14:12:17Z
dc.date.accessioned2019-08-13T15:43:09Z
dc.date.available2019-07-18T14:12:17Z
dc.date.available2019-08-13T15:43:09Z
dc.date.issued2013-11-19
dc.identifierhttps://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/387
dc.identifier10.22430/22565337.387
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12622/672
dc.descriptionShearography is a tool for monitoring and inspecting of structural flaws and imperfections in different types of industrial, automotive and aeronautics applications. It is based on digital correlation of two speckle patterns in two states of interest: with and without load. The technique has the special quality of being very robust against environmental disturbances. We present a shearographic system to analyze the dynamic behavior of the strain that suffers a material in response to changes in temperature throughout the thermal load process.en-US
dc.descriptionLos sistemas de shearografía son herramientas para el control e inspección de fallas e imperfecciones estructurales en diferentes tipos de aplicaciones industriales, automotrices y aeronáuticas. Se basan en la correlación digital de dos frentes de onda de patrones de speckle en dos estados de interés: con y sin carga. La técnica tiene la cualidad especial de ser autoreferenciada en sus frentes de onda y por tanto es muy robusta frente a perturbaciones ambientales. Se presenta un sistema shearografía en el cual se puede analizar el comportamiento dinámico de los esfuerzos que sufre un material en función de cambios en temperatura a lo largo de todo el proceso de carga térmica.es-ES
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherInstituto Tecnológico Metropolitano (ITM)en-US
dc.relationhttps://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/387/393
dc.rightsCopyright (c) 2017 Tecno Lógicasen-US
dc.source2256-5337
dc.source0123-7799
dc.sourceTecnoLógicas; Special edition (2013); 719-730en-US
dc.sourceTecnoLógicas; Edición Especial (2013); 719-730es-ES
dc.subjectShearografíaes-ES
dc.subjectensayo no destructivoes-ES
dc.subjectmetrología ópticaes-ES
dc.subjecttransformada de Hilbertes-ES
dc.titleSistema De Shearografía para el Análisis Dinámico de Materiales bajo Estrés Térmicoes-ES
dc.title.alternativeShearographic System for Dynamic Analysis of Materials under Heat Stress
dc.subject.keywordsShearography
dc.subject.keywordsnondestructive testing
dc.subject.keywordsoptical metrology
dc.subject.keywordsHilbert transform
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.typeComputer's sciencees-ES


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